開催日 | 2018年6月26日(火)15:00~17:00 |
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会場 | B-EN-G 本社 20F会議室 (東京都千代田区大手町) |
内容 | 集めたデータを捉え直し、有効に活用するための、品質予測を可能にする解析ソリューション「DELMIA Operations Intelligence(DELMIA OI)」。 DELMIA OIは、機械学習のうちのルール抽出という手法を用い、製造現場のメンバーが使いやすいことを特徴としています。 IoTで集めたデータの活用という面と人材育成という2つの側面から注目を集めています。 本セミナーでは、このDELMIA OIをデモンストレーションを交え、ご紹介いたします。 |
参加費 | 無料(事前登録制) |
対象 | 3DEXPERIENCE FORUM2018で弊社講演を聴講された方や弊社ブースにお立ち寄りいただいた方、製造業の生産技術、品質管理、製品設計、研究開発部等部門、情報システム部門等の方々 ※主催会社とご同業の方は参加はご遠慮ください ※ユーザー企業様優先とさせていただきます。 |
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